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首頁-產(chǎn)品展示-智能裝備解決方案-手機行業(yè)檢測設備-MINSM-100IR檢測排片設備
產(chǎn)品型號：MINSM-100
企業(yè)實力
Enterprise Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY
詳細介紹
IR檢測排片設備用于手機濾光片上下表面及測面檢測，設備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案。設備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼、Wafer 擴模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位，通過高分辨率光學系統(tǒng)，對濾光片崩點、臟污、劃傷、絲印進行等進行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點，該設備集成了我司最新研制的凹坑檢測專用光學系統(tǒng)實現(xiàn)了凹坑缺陷的高準確率識別。另外，設備具備缺陷分類、SPC統(tǒng)計、MES數(shù)據(jù)上拋等信息化功能。該設備為行業(yè)某頭部公司定制開發(fā)，為業(yè)內(nèi)具備濾光片上下表面缺陷全覆蓋檢測的高速面檢設備。
高速取排片
采用輕量化高速轉(zhuǎn)塔設計，配合分離式下壓Z軸與XYU取排片平臺，實現(xiàn)高速取排，CT＜0.7s。
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高速轉(zhuǎn)塔 | 分離式Z軸 | XYU取片平臺 |
IR
片多類型缺陷檢測
IR檢測排片設備采用高分辨率光學系統(tǒng)對濾光片臟污、印子、劃傷、水印、絲印相關(guān)缺陷及凹坑等進行高精度檢測。
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型號：MINSM-100
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